一种优化波长矫正方法及采用该方法的分光测色仪

发明专利无效专利

申请号：
CN201510565578.6
IPC分类号：G01J3/46
申请日期：
2015-09-08
申请人：
杭州彩谱科技有限公司;中国计量学院

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著录项信息

专利名称	一种优化波长矫正方法及采用该方法的分光测色仪
申请号	CN201510565578.6	申请日期	2015-09-08
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2016-05-25	公开/公告号	CN105606220A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/46 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/46 颜色的测量；颜色测量装置，例如色度计（测量色温入G01J 5/60）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;4;6查看分类表>
申请人	杭州彩谱科技有限公司;中国计量学院	申请人地址	浙江省杭州市经济技术开发区文渊北路166号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杭州彩谱科技有限公司	当前权利人	杭州彩谱科技有限公司
发明人	袁琨;吴逸萍
代理机构	杭州浙科专利事务所（普通合伙）	代理人	吴秉中

摘要

本发明公开了一种优化波长矫正方法，包括如下步骤：测量标准白板在不同像元处的信号光强度；测量标准黑板在不同像元处的信号光强度；测量标准绿板在不同像元处的信号光强度；通过白板和黑板的采样结果，计算绿板在不同像元处的光谱反射曲线在仪器出厂前对仪器进行定标测量，取的最大值对应像元记录至仪器内部；在用户实际使用仪器时，每次开机后进行以上校正过程，得到的最大值对应像元，看与是否相同。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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