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一种SOT封装型半导体分立器件直插式测试系统

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202221847554.1
  • IPC分类号:G01R1/04;G01R31/26
  • 申请日期:
    2022-07-18
  • 申请人:
    中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂)
著录项信息
专利名称一种SOT封装型半导体分立器件直插式测试系统
申请号CN202221847554.1申请日期2022-07-18
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R1/04IPC分类号G;0;1;R;1;/;0;4;;;G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂)申请人地址
贵州省贵阳市乌当区新添大道北段270号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂)当前权利人中国振华集团永光电子有限公司(国营第八七三厂)
发明人潘昆;何伟伟;李朋;杨倩;谭仕思;韩丹
代理机构贵阳中工知识产权代理事务所代理人杨成刚
摘要
一种SOT封装型半导体分立器件直插式测试系统,属于半导体器件测试领域。包括夹具装置、转接装置、测试装置;夹具装置包括待测件插座、插座固定板、金属连接杆、夹具装置接口板、金属引脚;插座固定板包括固定板本体、固定板金属化通孔、固定板通孔焊盘、固定板插座焊盘;夹具装置接口板包括接口板本体、接口板金属化通孔、接口板通孔焊盘、接口板引脚通孔、接口板金属引脚固定件;转接装置包括转接板、转接装置输入接口、转接装置输出接口,转接装置输出接口包括测试装置连接件、插头,测试装置连接件一端接插头,另一端接转接板。解决了现有技术中接口故障频繁、测试误差大、精度低的问题。广泛应用于SOT封装型半导体分立器件测试领域。

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