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半导体存储装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200710006984.4
IPC分类号：G11C29/12;G11C29/18
申请日期：
2007-01-31
申请人：
株式会社东芝

基础信息

权利要求

说明书

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	半导体存储装置
申请号	CN200710006984.4	申请日期	2007-01-31
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2007-08-08	公开/公告号	CN101013602
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/04 损坏存储元件的检测或定位〔8〕 G11C29/08 功能测试，例如，在刷新、通电自检〔POST〕或分布型测试期间的测试〔8〕 G11C29/12 用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置〔BIST〕〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;1;2;;;G;1;1;C;2;9;/;1;8查看分类表>
申请人	株式会社东芝	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社东芝	当前权利人	株式会社东芝
发明人	杉浦义久;井上敦史
代理机构	北京市中咨律师事务所	代理人	李峥;于静

摘要

公开了一种半导体存储装置，具备：具有多个存储单元的存储单元阵列；把包含“0”和“1”的测试模式数据在多个存储单元中按照每页写入、对多个存储单元进行测试的BIST电路；保持从多个存储单元中按照每页读出的多个数据的读出放大器；一并检测保持在读出放大器中的多个数据，把检测结果输出到上述BIST电路的检测电路。

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