一种红外热成像装置的测试调整系统及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202011565932.2
IPC分类号：G01J5/00
申请日期：
2020-12-25
申请人：
武汉高德智感科技有限公司

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专利名称	一种红外热成像装置的测试调整系统及方法
申请号	CN202011565932.2	申请日期	2020-12-25
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-04-30	公开/公告号	CN112729558A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J5/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J5/00 辐射高温测定法	IPC分类号	G;0;1;J;5;/;0;0查看分类表>
申请人	武汉高德智感科技有限公司	申请人地址	湖北省武汉市东湖新技术开发区黄龙山南路6号武汉高德红外工业园4栋3-6层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉高德智感科技有限公司	当前权利人	武汉高德智感科技有限公司
发明人	叶龙;黄晟;王鹏;周汉林
代理机构	北京汇泽知识产权代理有限公司	代理人	郑飞

摘要

一种红外热成像装置的测试调整系统及方法，所述系统包括热源模块、大面阵标靶、固定调整装置以及软件判别系统：所述热源模块用于为大面阵标靶提供热辐射背景源；所述大面阵标靶用于为红外热成像装置提供靶标图案；所述固定调整装置用于固定红外热成像装置，并调节红外热成像装置的位置及角度，从而校准红外热成像装置采集的靶标影像；所述软件判别系统用于基于红外热成像装置采集的靶标影像来计算影像质量。本发明硬件及维护成本低，测试结果客观，且一致性好，检测效率高，适用于大批量的生产检测。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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