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一种集成电路测试装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202020156015.8
  • IPC分类号:G01R31/28;G01R1/04
  • 申请日期:
    2020-02-08
  • 申请人:
    北京旺达世嘉科技发展有限公司
著录项信息
专利名称一种集成电路测试装置
申请号CN202020156015.8申请日期2020-02-08
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/28IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人北京旺达世嘉科技发展有限公司申请人地址
北京市东城区和平里东街14号院2号楼222房间 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京旺达世嘉科技发展有限公司当前权利人北京旺达世嘉科技发展有限公司
发明人来楚楚
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本实用新型公开了一种集成电路测试装置,涉及集成电路领域。该集成电路测试装置,包括底座和测试仪,测试仪设置于底座上侧,底座底端面上固定连接有一组支撑座,底座上端面上开设有放置槽,放置槽内侧设有用于对电路板进行夹持固定的夹持机构,放置槽下端面上开设有固定槽,固定槽内侧设有一组用于对电路板进行连接的导片,导片与固定槽底面连接处设有用于对其进行复位的复位机构,放置槽两端侧壁上开设有透气孔,底座一端侧壁上转动连接盖板,盖板靠近底座的一端侧壁上设有测试仪。本实用新型相较于现有的测试装置,利用夹持机构可以对集成电路板的位置进行固定,确保其在测试过程中的稳定性,使得测试人员可以对其进行有效地数据测试。

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