用于测量发光二极管的光特性的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201310202451.9
IPC分类号：G01J1/00
申请日期：
2013-05-28
申请人：
迪尔航空航天有限公司

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著录项信息

专利名称	用于测量发光二极管的光特性的方法
申请号	CN201310202451.9	申请日期	2013-05-28
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2014-01-01	公开/公告号	CN103487137A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J1/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J1/00 光度测定法，例如照相的曝光表（分光光度测定法入G01J 3/00；专用于辐射高温测定法的入G01J 5/00）	IPC分类号	G;0;1;J;1;/;0;0查看分类表>
申请人	迪尔航空航天有限公司	申请人地址	德国于伯林根变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	迪尔航空航天有限公司	当前权利人	迪尔航空航天有限公司
发明人	S·巴彻梅尔;N·坎加拉吉斯
代理机构	中国国际贸易促进委员会专利商标事务所	代理人	曹瑾

摘要

本公开涉及测量发光二极管的光特性的方法。具体涉及按可以在一脉冲宽度调制时段内针对每一个通道生成具有预定宽度的至少一个脉冲的方式来测量并联连接的多个通道的配置中的发光二极管的光特性的方法，其具有每通道至少一个LED，和通过PWM来驱动这些通道的驱动器，其中，在一测量间隔期间测量选定通道的LED，该测量间隔交叠选定通道的脉冲。根据本发明，提出了该测量间隔位于该PWM时段的一部分中，其中，还在另一通道中生成另一脉冲，该另一脉冲关于时间的积分具有预定值，并且，该另一脉冲按使其位于测量间隔之外的方式在时间上移位，同时在PWM时段内保留该预定值；或者，在保留该预定值的同时，该另一脉冲被划分成两个子脉冲。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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