半导体器件、测试装置、以及测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200580045992.9
IPC分类号：G01R31/317;H01L27/04
申请日期：
2005-11-24
申请人：
爱德万测试株式会社

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	半导体器件、测试装置、以及测试方法
申请号	CN200580045992.9	申请日期	2005-11-24
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2008-01-02	公开/公告号	CN101099087
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/317 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;7;;;H;0;1;L;2;7;/;0;4查看分类表>
申请人	爱德万测试株式会社	申请人地址	日本东京变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	爱德万测试株式会社	当前权利人	爱德万测试株式会社
发明人	山崎真;松村英宜
代理机构	北京中原华和知识产权代理有限责任公司	代理人	寿宁

摘要

本发明提供一种半导体器件，是测试设置在内部的被测配线的延迟时间的半导体器件。此半导体器件包括：循环路径，在路径上设置了被测配线；延迟元件，让输入信号只延迟规定时间；延迟选择部，用于切换是否在循环路径上连接延迟元件；循环延迟测试部，用于测量循环路径延迟时间；第1门延迟计算部，其从在循环路径上连接了延迟元件时的循环路径延迟时间，减去在循环路径上未连接延迟元件时的循环路径延迟时间，而计算出延迟元件的延迟时间；第2门延迟计算部，其基于延迟元件的延迟时间，而计算出在循环路径上连接的逻辑电路的延迟时间；以及，配线延迟计算部，用于计算被测配线的延迟时间。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供