影像测量仪的测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200610116271.9
IPC分类号：G01B11/00;G06K9/60
申请日期：
2006-09-20
申请人：
上海量具刃具厂

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	影像测量仪的测量方法
申请号	CN200610116271.9	申请日期	2006-09-20
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2008-03-26	公开/公告号	CN101149249
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;6;K;9;/;6;0查看分类表>
申请人	上海量具刃具厂	申请人地址	上海市松江九亭,松江高科技园区沧泾路200号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海量具刃具厂有限公司	当前权利人	上海量具刃具厂有限公司
发明人	封志鸣;黄士栋;姚斌
代理机构	上海天协和诚知识产权代理事务所	代理人	张恒康

摘要

本发明公开了一种影像测量仪的测量方法，该影像测量仪的测量过程分对焦阶段、拍摄阶段、拼接阶段及计算阶段，与现有技术相比，本发明的影像测量仪的测量方法的技术方案是对较大的一个范围取像，保存整个图像信息，将测量时取得的所有图像信息进行处理，如果进行批量检测可对多个工件的外形和相对位置关系做比较，从而可以任意摆放工件。同时在取点上现有技术方案如取多个点将对检测时间产生影响，本发明的技术方案是在生成图形后对图形取点，可以任意设置取点数无需顾及机械定位精度和检测时间。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供