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蚀刻和清洗方法及所用的蚀刻和清洗设备

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN00102991.6
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2000-03-14
  • 申请人:
    日本电气株式会社
著录项信息
专利名称蚀刻和清洗方法及所用的蚀刻和清洗设备
申请号CN00102991.6申请日期2000-03-14
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2000-09-27公开/公告号CN1267904
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人日本电气株式会社申请人地址
美国加利福尼亚 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人德塞拉先进技术公司当前权利人德塞拉先进技术公司
发明人山崎进也;青木秀充
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人戎志敏
摘要
提供一种蚀刻/清洗设备。该设备具有好的控制性并使得有选择性地清除存在于半导体晶片上的不需要的杂质而没有损害器件区域成为可能。装置包括:(a)用于固定半导体晶片和在水平面旋转所述晶片的旋转装置;在晶片的正面有器件区域和正面圆周区域;正面圆周区域放置在器件区域的外部;以及(b)向晶片的正面圆周区域喷射蚀刻/清洗液体的边缘喷嘴。

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