摘要：本发明公开了一种对测量目标进行测量的方法。为了对PCB上的测量目标进行测量，利用将光栅图案光照射到PCB上而拍摄的第一图像来获取PCB的三维高度信息。然后，利用高度信息将高度比基准高度大而在PCB上突出的第一区域确定为测量目标。然后，利用将光照射到PCB上而拍摄的第二图像来获取PCB的颜色信息。然后，将PCB的颜色信息之中的被确定为测量目标的第一区域的第一颜色信息设定为基准颜色信息。然后，将基准颜色信息与除第一区域之外的区域的颜色信息进行比较，以判定测量目标是否形成在除第一区域之外的区域中。因此，可以精确地对测量目标进行测量。

摘要：本发明公开了一种对测量目标进行测量的方法。为了对PCB上的测量目标进行测量，利用将光栅图案光照射到PCB上而拍摄的第一图像来获取PCB的三维高度信息。然后，利用高度信息将高度比基准高度大而在PCB上突出的第一区域确定为测量目标。然后，利用将光照射到PCB上而拍摄的第二图像来获取PCB的颜色信息。然后，将PCB的颜色信息之中的被确定为测量目标的第一区域的第一颜色信息设定为基准颜色信息。然后，将基准颜色信息与除第一区域之外的区域的颜色信息进行比较，以判定测量目标是否形成在除第一区域之外的区域中。因此，可以精确地对测量目标进行测量。