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一种读失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201910571969.7
  • IPC分类号:G11C29/04;G11C29/56;G11C29/00
  • 申请日期:
    2019-06-28
  • 申请人:
    珠海博雅科技有限公司
著录项信息
专利名称一种读失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质
申请号CN201910571969.7申请日期2019-06-28
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2019-10-22公开/公告号CN110364214A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G11C29/04IPC分类号G;1;1;C;2;9;/;0;4;;;G;1;1;C;2;9;/;5;6;;;G;1;1;C;2;9;/;0;0查看分类表>
申请人珠海博雅科技有限公司申请人地址
广东省珠海市唐家湾镇大学路101号清华科技园创业大楼A座A1005-1007单元 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人珠海博雅科技有限公司当前权利人珠海博雅科技有限公司
发明人安友伟;陈晓君;李建球;那万臣;张登军;刘大海;闫江;李迪;陈刚;余作欢;逯钊琦
代理机构广州嘉权专利商标事务所有限公司代理人丁泽亮
摘要
本发明公开了一种读失效存储单元的替换方法、装置、设备及存储介质,接收外部的测试机发送的替换指令和校验数据;将目标存储芯片内的数据与校验数据相比较,判断失效的cell;对比较得到的失效的cell进行分析和判别;执行替换指令,依次对失效的cell进行替换。将替换指令执行的操作交由存储芯片主控来完成,测试机在这个过程中只需要负责发送校验数据和替换指令,以及判断执行结果和固化替换信息,因此测试机在测试过程中的计算量大大减小,相应减小了测试时间,对于需要同步测试多个存储芯片的测试机来说,测试方的设备要求降低。

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