表面高度测量系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201780087816.4
IPC分类号：--
申请日期：
2017-04-01
申请人：
惠普发展公司,有限责任合伙企业;俄勒冈州大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	表面高度测量系统
申请号	CN201780087816.4	申请日期	2017-04-01
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-12-24	公开/公告号	CN110612427A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	惠普发展公司,有限责任合伙企业;俄勒冈州大学	申请人地址	美国德克萨斯州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	惠普发展公司,有限责任合伙企业,俄勒冈州大学	当前权利人	惠普发展公司,有限责任合伙企业,俄勒冈州大学
发明人	D·莫舍;B·贝;D·A·钱皮恩;J·迈金内尔
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	李雪娜;陈岚

摘要

第一相机和第二相机以不同的角度定向并且被间隔开分离距离以确定表面高度测量。相机以镜头焦距聚焦于表面区域，以记录具有表面区域的共同特征的x‑y像素的所捕获的图像对。执行使所捕获的图像对的相关，以使用用于协助的基准来测量所捕获的图像对中的共同特征之间的一组视差距离。该组视差距离被转化成具有并入分离距离、镜头焦距、该组视差距离、以及校准误差因子的分辨率的一组z高度测量值。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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