利用扰动引起低模式耦合测量光纤中低PMD的系统和方法

发明专利无效专利

申请号：
CN03152335.8
IPC分类号：G01M11/02;G01N21/00;G01J4/00
申请日期：
2003-07-29
申请人：
菲特尔美国公司

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著录项信息

专利名称	利用扰动引起低模式耦合测量光纤中低PMD的系统和方法
申请号	CN03152335.8	申请日期	2003-07-29
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2004-02-18	公开/公告号	CN1475785
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2;;;G;0;1;N;2;1;/;0;0;;;G;0;1;J;4;/;0;0查看分类表>
申请人	菲特尔美国公司	申请人地址	美国佐治亚州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	菲特尔美国公司	当前权利人	菲特尔美国公司
发明人	阿比吉特·森古皮塔;阿伦·H·麦柯迪
代理机构	中国国际贸易促进委员会专利商标事务所	代理人	李德山

摘要

公开了用于测量单模光纤偏振模色散(PMD)的系统和方法。该方法能在低模式耦合状态下更快速和更简单地测量内在超低PMD光纤。该方法包括将多个局部外部扰动引入该光纤上，在此之后使该光纤达到一种稳定状态，然后使用标准测量技术测量微分群延迟。改变多个局部外部扰动，然后对微分群延迟进行另一次测量。在获得足够数量测量结果之后，提供麦克斯韦分布，可以计算该分布的平均值作为偏振模色散值。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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