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利用扰动引起低模式耦合测量光纤中低PMD的系统和方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN03152335.8
  • IPC分类号:G01M11/02;G01N21/00;G01J4/00
  • 申请日期:
    2003-07-29
  • 申请人:
    菲特尔美国公司
著录项信息
专利名称利用扰动引起低模式耦合测量光纤中低PMD的系统和方法
申请号CN03152335.8申请日期2003-07-29
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2004-02-18公开/公告号CN1475785
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01M11/02IPC分类号G;0;1;M;1;1;/;0;2;;;G;0;1;N;2;1;/;0;0;;;G;0;1;J;4;/;0;0查看分类表>
申请人菲特尔美国公司申请人地址
美国佐治亚州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人菲特尔美国公司当前权利人菲特尔美国公司
发明人阿比吉特·森古皮塔;阿伦·H·麦柯迪
代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所代理人李德山
摘要
公开了用于测量单模光纤偏振模色散(PMD)的系统和方法。该方法能在低模式耦合状态下更快速和更简单地测量内在超低PMD光纤。该方法包括将多个局部外部扰动引入该光纤上,在此之后使该光纤达到一种稳定状态,然后使用标准测量技术测量微分群延迟。改变多个局部外部扰动,然后对微分群延迟进行另一次测量。在获得足够数量测量结果之后,提供麦克斯韦分布,可以计算该分布的平均值作为偏振模色散值。

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