具有测试装置的存储模块

发明专利有效专利

申请号：
CN200310113107.9
IPC分类号：G11C29/00;G06F11/26;G06F13/00
申请日期：
2003-12-22
申请人：
因芬尼昂技术股份公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	具有测试装置的存储模块
申请号	CN200310113107.9	申请日期	2003-12-22
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2004-07-28	公开/公告号	CN1516200
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;0;0;;;G;0;6;F;1;1;/;2;6;;;G;0;6;F;1;3;/;0;0查看分类表>
申请人	因芬尼昂技术股份公司	申请人地址	德国瑙伊比贝尔格市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	英飞凌科技股份有限公司	当前权利人	英飞凌科技股份有限公司
发明人	A·贾科布斯
代理机构	北京康信知识产权代理有限责任公司	代理人	余刚;李丙林

摘要

一种存储模块(9)，使设置在存储模块(9)的印刷电路板(7)上之复数个积体存储芯片(1，2，3，4)的模块内部、交叉芯片电功能测试成为可能。为此，本案提供一种测试装置(5)，其与该存储芯片分开地设置在该印刷电路板(7)上。该测试装置依靠由外部测试器(10)所提供的一时钟讯号(T)且其本身并无法指示一测试结果，但其可产生执行功能测试所需要的测试讯号，且将它们藉由控制线路(11)、地址线路(12)、数据线路(13)以及用以选择个别的存储芯片的线路而转交给后者。本案的测试功能系被部分整合至测试装置中，以致于可不受外部电磁干扰的影响，且没有存储模块空间需求的过度增加。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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