通过正电子探针定位腔体内壁缺陷的无损检测系统及检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510552785.8
IPC分类号：G01N23/00
申请日期：
2015-09-01
申请人：
南京航空航天大学

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著录项信息

专利名称	通过正电子探针定位腔体内壁缺陷的无损检测系统及检测方法
申请号	CN201510552785.8	申请日期	2015-09-01
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2015-12-16	公开/公告号	CN105158278A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/00 利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、（或中子，未包括在G01N3/00至G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00）〔1，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;0查看分类表>
申请人	南京航空航天大学	申请人地址	广东省深圳市南山区西丽街道西丽社区留仙大道创智云城1标段1栋C座906 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳航宇光子检测技术有限公司	当前权利人	深圳航宇光子检测技术有限公司
发明人	刘兼唐;肖辉;赵敏;姚敏;陈皓
代理机构	江苏圣典律师事务所	代理人	贺翔

摘要

本发明公开一种通过正电子探针定位腔体内壁缺陷的无损检测系统及检测方法，检测系统包括硬件部分和软件部分，硬件部分包括底座；位于底座上的待测零件前端支架、待测零件后端支架和带光栅尺的气浮导轨模组；待测零件；安装于带光栅尺的气浮导轨模组上的环形探测器支架；安装于环形探测器支架内的环形探测器阵列；位于底座上的正电子探针源铅室；连接于正电子探针源铅室和待测零件之间的正电子探针液体循环输入管和正电子探针液体循环输出管。软件部分包括探测器记录正电子湮没产生的γ光子数的计数模块；γ光子均分补偿的最大似然估计数学模型模块；基于有序子集最大期望的模型求解模块；基于最大类间方差的图像增强模块以及3D图像合成模块。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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