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一种具有保护环的超结MOSFET器件

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201710667823.3
  • IPC分类号:H01L27/088;H01L29/06
  • 申请日期:
    2017-08-07
  • 申请人:
    电子科技大学
著录项信息
专利名称一种具有保护环的超结MOSFET器件
申请号CN201710667823.3申请日期2017-08-07
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2017-12-01公开/公告号CN107424997A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L27/088IPC分类号H;0;1;L;2;7;/;0;8;8;;;H;0;1;L;2;9;/;0;6查看分类表>
申请人电子科技大学申请人地址
四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人电子科技大学当前权利人电子科技大学
发明人任敏;罗蕾;李佳驹;谢驰;李泽宏;张波
代理机构成都点睛专利代理事务所(普通合伙)代理人葛启函
摘要
本发明提供了一种具有保护环的超结MOSFET器件,属于功率器件技术领域。本发明器件的有源区中具有至少一个由元胞阵列和环绕于元胞阵列外围的保护环构成的组合单元;任意一个元胞的结构自下而上包括金属化漏极、衬底、外延区、柱区和体区一、栅极以及金属化源极,所述元胞阵列外围的外延区内还设置有环区及其内的体区二,体区一、体区二、柱区及环区的导电类型均与外延区导电类型相反。通过合理控制环区相较柱区的掺杂量导致保护环处电荷失衡,从而改变雪崩击穿路径并将雪崩击穿点固定在保护环处,避免雪崩电流流经寄生三极管基区电阻使其开启,从而提高了超结功率器件抗UIS失效能力,进而提高了超结功率器件的可靠性。

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