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ICP发光分光分析装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201510135146.1
  • IPC分类号:G01N21/73
  • 申请日期:
    2015-03-26
  • 申请人:
    日本株式会社日立高新技术科学
著录项信息
专利名称ICP发光分光分析装置
申请号CN201510135146.1申请日期2015-03-26
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2015-09-30公开/公告号CN104949963A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/73IPC分类号G;0;1;N;2;1;/;7;3查看分类表>
申请人日本株式会社日立高新技术科学申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人日本株式会社日立高新技术科学当前权利人日本株式会社日立高新技术科学
发明人中川良知
代理机构中国专利代理(香港)有限公司代理人张涛;张懿
摘要
公开了一种ICP发光分光分析装置。提供一种预先对光电倍增管施加电压以能够迅速地转移至主分析的ICP发光分光分析装置。ICP发光分光分析装置(1)由感应耦合等离子体发生部(10)、聚光部(20)、分光器(30)、检测器(40)以及控制部(60)大致构成。另外,在检测器(40)具备光电倍增管(70),具有检测器控制部(41)和输入部(42)。由于在光电倍增管(70)存在分压电阻r1~rn,因此由于被施加于光电倍增管(70)的施加电压Ve的变化而放大率不会立即变为固定,但是检测器控制部(41)在从预先向输入部(42)输入分析条件之后起直到向感应耦合等离子体装置(10)导入包括分析对象的元素的样本之前为止的期间中控制空转电压和空转电压施加时间来使倍增率固定。

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