一种光学测试系统

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201620798446.8
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2016-07-27
申请人：
苏州奥科飞光电科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种光学测试系统
申请号	CN201620798446.8	申请日期	2016-07-27
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	苏州奥科飞光电科技有限公司	申请人地址	江苏省苏州市工业园区华云路1号东坊产业园3幢1楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	苏州奥科飞光电科技有限公司	当前权利人	苏州奥科飞光电科技有限公司
发明人	王长东
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型公开了一种光学测试系统，包括宽带光源发生器、上准直器、下准直器、光谱仪以及测试系统，所述宽带光源发生器与所述上准直器通过第一光纤连接，所述下准直器与所述光谱仪之间通过第二光纤连接，所述光谱仪还与所述测试系统电性连接，所述上准直器和所述下准直器之间设置有用于承载待测试件的载物台。通过以上技术方案，宽带光源发生器经由光纤发出的发散光，发散光通过上准直器后变成平行光，平行光照射于载物台上的待检测件上，再由下准直器进行聚焦，经过聚焦后的光束进入光谱仪中，光谱仪对光的每个波长、透光率等进行分析，同时测试系统对光谱仪进行控制，并对光进行分析处理，对测试结果进行显示。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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