基于熵排序的半监督谱聚类确定聚类数的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201010278767.2
IPC分类号：G06K9/62
申请日期：
2010-09-09
申请人：
西安电子科技大学

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著录项信息

专利名称	基于熵排序的半监督谱聚类确定聚类数的方法
申请号	CN201010278767.2	申请日期	2010-09-09
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2011-02-09	公开/公告号	CN101968852A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06K9/62 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06K 数据识别；数据表示；记录载体；记录载体的处理（印刷本身入B41J） G06K9/00 用于阅读或识别印刷或书写字符或者用于识别图形，例如，指纹的方法或装置（用于图表阅读或者将诸如力或现状态的机械参量的图形转换为电信号的方法或装置入G06K 11/00；语音识别入G10L 15/00）〔1，7〕 G06K9/62 应用电子设备进行识别的方法或装置〔3〕	IPC分类号	G;0;6;K;9;/;6;2查看分类表>
申请人	西安电子科技大学	申请人地址	陕西省西安市太白南路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安电子科技大学	当前权利人	西安电子科技大学
发明人	张向荣;焦李成;杨杰;侯彪;王爽;公茂果;刘若辰;李阳阳
代理机构	陕西电子工业专利中心	代理人	王品华;朱红星

摘要

本发明公开了一种基于熵排序的半监督谱聚类确定聚类数的方法，主要解决谱聚类中拉普拉斯矩阵的特征向量的选择问题。其过程为：用熵排序的理论对特征向量进行“重排列”，得到特征向量重要度最高的列，对于一个k类问题，抽取特征向量的前k列，并将其投射到k维空间；根据各个点与k维空间中2k个半轴的距离进行聚类，除去2k类中没有点的类或者点数少于输入数据点数百分之一的聚类，将保留下来的聚类数记为c；再抽取特征向量前c列，循环该操作直到聚类数稳定为止，此时对应的类数是最佳聚类数；按输入点的坐标对输入数据点进行标记，得到聚类结果。本发明具有自适应和聚类正确率高的优点，可用于对图像类别数的自适应确定。

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