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基于本地光移频的外差型Φ-OTDR技术的扰动监测系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110010633.0
  • IPC分类号:G01D5/353
  • 申请日期:
    2021-01-06
  • 申请人:
    中国地质大学(武汉)
著录项信息
专利名称基于本地光移频的外差型Φ-OTDR技术的扰动监测系统
申请号CN202110010633.0申请日期2021-01-06
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-05-25公开/公告号CN112833929A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01D5/353IPC分类号G;0;1;D;5;/;3;5;3查看分类表>
申请人中国地质大学(武汉)申请人地址
湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国地质大学(武汉)当前权利人中国地质大学(武汉)
发明人余志华;戴贝
代理机构武汉知产时代知识产权代理有限公司代理人张毅
摘要
本发明提供一种基于本地光移频的外差型Φ‑OTDR技术的扰动监测系统,包括探测高频率窄脉宽脉冲光和移频后的本地连续光生成模块、探测光纤模块以及数据采集及信号处理模块;本系统利用一种窄脉宽脉冲光作为探测光与经过高频率移频的本地连续光干涉的分布式光纤传感技术,通过将窄脉宽脉冲光作为探测波入射到待测光纤中,在分布式光纤传感器系统中,能利用毫秒级别的探测数据量对其扰动进行定量分析,并准确还原出扰动信号的频率和幅值等信息。由于原始信号的移频大幅度降低,使得采样数据量减少,更便于该系统可以实时地定量分析扰动信号的频率和幅值,这是传统分布式光纤传感器所不具备的优势。

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