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一种全存储深度测量方法及数字示波器、存储介质

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202011391348.X
  • IPC分类号:G06F3/0482;G06K9/00;G01R13/02
  • 申请日期:
    2020-12-03
  • 申请人:
    深圳市鼎阳科技股份有限公司
著录项信息
专利名称一种全存储深度测量方法及数字示波器、存储介质
申请号CN202011391348.X申请日期2020-12-03
法律状态授权申报国家暂无
公开/公告日2021-01-08公开/公告号CN112199010A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F3/0482IPC分类号G;0;6;F;3;/;0;4;8;2;;;G;0;6;K;9;/;0;0;;;G;0;1;R;1;3;/;0;2查看分类表>
申请人深圳市鼎阳科技股份有限公司申请人地址
广东省深圳市宝安区新安街道兴东社区68区安通达工业厂区4栋厂房3层、5栋办公楼1-3层 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人深圳市鼎阳科技股份有限公司当前权利人深圳市鼎阳科技股份有限公司
发明人郑文明;刘仲胜;郭宇昊
代理机构深圳鼎合诚知识产权代理有限公司代理人郭燕
摘要
本申请涉及一种全存储深度测量方法及数字示波器、存储介质,其中全存储深度测量方法包括:获取一帧采集数据,根据采集数据进行信号的波形构建,得到波形数据;对波形数据进行单独存储,以及预处理波形数据,得到第一参数信息;根据第一参数信息对单独存储的波形数据进行再处理,得到第二参数信息;通过并行处理方式对波形数据进行映射处理,将形成的波形图像以及对应的第一参数信息和第二参数信息进行图像显示。技术方案优化了测量流程和测量速度,降低了对处理器的处理能力、内存容量和读数带宽的限制,不需要对原始采样数据进行压缩即可实现全存储深度测量,利于保证示波器信号测量时的测量精度。

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