光栅尺性能检测方法和系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201810205102.5
IPC分类号：B23Q17/00;B23Q17/24
申请日期：
2018-03-13
申请人：
上海铼钠克数控科技股份有限公司

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著录项信息

专利名称	光栅尺性能检测方法和系统
申请号	CN201810205102.5	申请日期	2018-03-13
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-08-17	公开/公告号	CN108406442A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	B23Q17/00 ? IPC结构图谱： B 作业；运输 B2 成型 B23 机床；其他类目中不包括的金属加工 B23Q 机床的零件、部件或附件，如仿形装置或控制装置（在车床或镗床上使用的各类刀具入B23B 27/00）；以特殊零件或部件的结构为特征的通用机床；不针对某一特殊金属加工用途的金属加工机床的组合或联合 B23Q17/00 机床上的指示或测量装置（用于刀具或工件的进给运动，切削速度或位置的自控制或调节入B23Q 15/00）〔3，4〕	IPC分类号	B;2;3;Q;1;7;/;0;0;;;B;2;3;Q;1;7;/;2;4查看分类表>
申请人	上海铼钠克数控科技股份有限公司	申请人地址	上海市徐汇区平福路279号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海铼钠克数控科技股份有限公司	当前权利人	上海铼钠克数控科技股份有限公司
发明人	卢红星
代理机构	上海弼兴律师事务所	代理人	胡美强;张冉

摘要

本发明公开了一种光栅尺性能检测方法和系统，其中光栅尺性能检测方法包含以下步骤：运行数控程序控制机床的各运动轴运动，使用信号采集模块采集机床运动过程中的指令速度、指令位置，并使用待测光栅尺获取机床运动的实际位置；获取机床运动过程中的跟随误差；根据指令速度，形成有效指令位置和有效跟随误差；将有效指令位置等间隔化；将有效跟随误差以线性内插的插值方法，得到等位置间隔的跟随误差数据序列；经过带通滤波器，得到滤波后的跟随误差数据序列；获取滤波后的跟随误差数据序列的特征值，根据特征值评价待测光栅尺的性能。本发明采用低成本的技术方案，实现对光栅尺的性能进行高精度的检测。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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