基于时频光信息融合的弥散介质光学参数场测量装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201910075887.3
IPC分类号：G01N21/47;G01N21/59
申请日期：
2019-01-25
申请人：
哈尔滨工业大学

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专利名称	基于时频光信息融合的弥散介质光学参数场测量装置及方法
申请号	CN201910075887.3	申请日期	2019-01-25
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-04-16	公开/公告号	CN109632718A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/47 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/47 散射，即漫反射（G01N 21/25，G01N 21/41优先）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;4;7;;;G;0;1;N;2;1;/;5;9查看分类表>
申请人	哈尔滨工业大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	哈尔滨工业大学	当前权利人	哈尔滨工业大学
发明人	齐宏;赵方舟;任亚涛;阮立明;赵春晖
代理机构	哈尔滨市松花江专利商标事务所	代理人	刘冰

摘要

基于时频光信息融合的弥散介质光学参数场测量装置及方法。本发明属于光学成像技术领域。现有对弥散介质吸收散射系数分布的同时重建过程中，利用单一模型的测量信号进行重建存在获得的测量数据少、光学参数场重建精度低的问题。本发明包括：利用具有微透镜阵列的光场相机分别获取调频激光与脉冲激光作用下弥散介质边界各个方向上的辐射强度信息，通过模拟调频激光作用下弥散介质内的红外辐射传输过程，初步得到频域模型下介质内部的光学参数场的重建图像，并作为时域模型的初始的光学参数场，通过模拟脉冲激光作用下弥散介质内的红外辐射传输过程，得到弥散介质的内部结构。利用本发明方法能完成高精度的光学参数场的重建。

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