zeta电位测量池和颗粒物性测量装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201110251703.8
IPC分类号：G01N15/00
申请日期：
2011-08-29
申请人：
株式会社堀场制作所

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法律信息

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著录项信息

专利名称	zeta电位测量池和颗粒物性测量装置
申请号	CN201110251703.8	申请日期	2011-08-29
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-04-04	公开/公告号	CN102401777A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N15/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N15/00 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积（微生物的识别入C12Q）〔1，4，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;1;5;/;0;0查看分类表>
申请人	株式会社堀场制作所	申请人地址	日本京都府变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社堀场制作所	当前权利人	株式会社堀场制作所
发明人	山口哲司;名仓诚
代理机构	北京信慧永光知识产权代理有限责任公司	代理人	周善来;李雪春

摘要

本发明提供一种颗粒物性测量池和颗粒物性测量装置。所述颗粒物性测量池包括：有底筒形的池主体(21)，形成沿长边方向延伸的内部空间(S1)，并在一个端部(21x)开口；一对施加电极(22)，在内部空间(S1)中相对配置；固定间隔件(23)，通过夹在一对施加电极(22)之间，限定所述施加电极(22)之间的距离，并且固定一对施加电极(22)。在把固定间隔件(23)插入到池主体(21)内的状态下，在池主体(21)的内部空间(S1)的下部形成一对施加电极(22)露出的zeta电位测量空间(S2)。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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