一种用于无损检测灵敏度试验的表面裂纹试样制作方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200910250738.2
IPC分类号：G01N1/28;G01N1/32
申请日期：
2009-12-10
申请人：
中国航空工业集团公司北京航空材料研究院

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著录项信息

专利名称	一种用于无损检测灵敏度试验的表面裂纹试样制作方法
申请号	CN200910250738.2	申请日期	2009-12-10
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2010-05-19	公开/公告号	CN101710040A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N1/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N1/00 取样；制备测试用的样品（用于自动分析的材料处理入G01N 35/00） G01N1/28 测试用样品的制备（将样品安装在显微镜载片上入G02B 21/34；电子显微镜中支承被分析的物品或材料的装置入H01J 37/20）	IPC分类号	G;0;1;N;1;/;2;8;;;G;0;1;N;1;/;3;2查看分类表>
申请人	中国航空工业集团公司北京航空材料研究院	申请人地址	北京市81号信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国航空工业集团公司北京航空材料研究院	当前权利人	中国航空工业集团公司北京航空材料研究院
发明人	王东升;任学冬;王树志;史亦韦
代理机构	中国航空专利中心	代理人	李建英

摘要

本发明属于无损检测技术，涉及一种用于无损检测灵敏度试验的表面裂纹试样制作方法。本发明采用疲劳加载方式制作裂纹缺陷，且操作简便；所制作疲劳裂纹缺陷尺寸小，且属典型裂纹缺陷，因此对于自然裂纹缺陷具有很好的代表性。本发明能成功获得具有自然裂纹大小缺陷的试样，试样的尺寸、形状和裂纹缺陷的走向、位置能符合多数试验要求，制作过程容易控制，其特别适用于磁粉检测中周向磁化检测灵敏度的调整和试验验证，也可推广应用于超声、涡流、渗透三个无损检测专业中表面裂纹检测灵敏度的试验研究。

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