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具有改善的底部覆盖率的钨膜的高功率脉冲磁控溅射物理气相沉积

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201980051367.7
  • IPC分类号:C23C14/35;C23C14/34;C23C14/04;C23C14/14
  • 申请日期:
    2019-08-08
  • 申请人:
    应用材料公司
著录项信息
专利名称具有改善的底部覆盖率的钨膜的高功率脉冲磁控溅射物理气相沉积
申请号CN201980051367.7申请日期2019-08-08
法律状态公开申报国家中国
公开/公告日2021-03-16公开/公告号CN112513316A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C23C14/35IPC分类号C;2;3;C;1;4;/;3;5;;;C;2;3;C;1;4;/;3;4;;;C;2;3;C;1;4;/;0;4;;;C;2;3;C;1;4;/;1;4查看分类表>
申请人应用材料公司申请人地址
美国加利福尼亚州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人应用材料公司当前权利人应用材料公司
发明人基索尔·卡拉提帕拉比尔;阿道夫·M·艾伦;雷建新;乔斯林甘·罗摩林甘;维加斯拉夫·巴巴扬
代理机构北京律诚同业知识产权代理有限公司代理人徐金国;赵静
摘要
使用HiPIMSPVD工艺形成膜层的方法包括以下步骤:在工艺腔室的处理区域中向基板提供偏压,基板包含表面特征且工艺腔室的处理区域包括溅射靶;将至少一个能量脉冲输送到溅射靶,以在处理区域中产生溅射气体的溅射等离子体,所述至少一个能量脉冲在小于5kHz且大于100Hz的频率下具有在约600伏特与约1500伏特之间的平均电压和在约50安培与约1000安培之间的平均电流;和朝向溅射靶引导溅射等离子体,以形成离子化的物种,所述物种包含从溅射靶溅射的材料,所述离子化的物种在基板的特征中形成具有改善的底部覆盖率的膜。

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