压印痕宽度检测装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201010181472.3
IPC分类号：G01B11/02;G02F1/13
申请日期：
2010-05-19
申请人：
北京京东方光电科技有限公司

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著录项信息

专利名称	压印痕宽度检测装置及方法
申请号	CN201010181472.3	申请日期	2010-05-19
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2011-11-23	公开/公告号	CN102252615A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先）	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;2;;;G;0;2;F;1;/;1;3查看分类表>
申请人	北京京东方光电科技有限公司	申请人地址	北京市朝阳区酒仙桥路10号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	京东方科技集团股份有限公司,北京京东方光电科技有限公司	当前权利人	京东方科技集团股份有限公司,北京京东方光电科技有限公司
发明人	宋勇志;鲁姣明;王煦;罗会月
代理机构	北京中博世达专利商标代理有限公司	代理人	申健

摘要

本发明公开了一种压印痕宽度检测装置及方法，涉及液晶技术领域，解决了现有技术中压印痕宽度测量准确率低、效率低的问题，本发明所述压印痕宽度检测装置，包括支撑并带动图像获取装置移动的支撑移动结构，所述图像获取装置用于获取所述待测基板上的压印痕图像；所述压印痕宽度检测装置还包括测量系统，用于测量所述压印痕图像中的压印痕宽度。本发明主要应用于液晶面板的制作。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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