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玻璃制品的缺陷检测系统及方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200810116872.9
  • IPC分类号:G01N21/958
  • 申请日期:
    2008-07-18
  • 申请人:
    北京中星微电子有限公司
著录项信息
专利名称玻璃制品的缺陷检测系统及方法
申请号CN200810116872.9申请日期2008-07-18
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2008-12-03公开/公告号CN101315338
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/958IPC分类号G;0;1;N;2;1;/;9;5;8查看分类表>
申请人北京中星微电子有限公司申请人地址
北京市海淀区学院路35号世宁大厦15层 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京中星微电子有限公司当前权利人北京中星微电子有限公司
发明人王俊艳
代理机构北京德琦知识产权代理有限公司代理人王一斌;王琦
摘要
本发明公开了一种玻璃制品的缺陷检测系统和一种玻璃制品的缺陷检测方法。本发明对摄像头拍摄到的被检测玻璃制品的图像进行边缘检测,得到被检测玻璃制品的边缘图;然后对边缘检测得到的边缘图进行二值化处理,并将二值化边缘图中表示特征线的强边缘去除。由于玻璃制品通常为透明或半透明的,对于不存在缺陷的玻璃制品来说,边缘图中应当只包括表示外形轮廓线和特征线的强边缘,因此,如果去除了表示特征线的强边缘的二值化边缘图中,除表示外形轮廓线的强边缘之外还包括其他强边缘,则产生表示被检测玻璃制品存在缺陷的控制信号,从而无需人工操作即可完成玻璃制品的缺陷检测,进而提高了玻璃制品缺陷检测的效率和可靠性。

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