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一种废弃微处理器芯片质量检测与自动分拣装置及其控制方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201810480538.5
  • IPC分类号:B65G47/90
  • 申请日期:
    2018-05-18
  • 申请人:
    湖北理工学院
著录项信息
专利名称一种废弃微处理器芯片质量检测与自动分拣装置及其控制方法
申请号CN201810480538.5申请日期2018-05-18
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2018-09-21公开/公告号CN108557457A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B65G47/90IPC分类号B;6;5;G;4;7;/;9;0查看分类表>
申请人湖北理工学院申请人地址
湖北省黄石市桂林北路16号湖北理工学院 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人湖北理工学院当前权利人湖北理工学院
发明人邓彬伟;蒋何鹏;张轶蔚;吴聪;康夏涛
代理机构湖北武汉永嘉专利代理有限公司代理人刘琰
摘要
本发明公开了一种废弃微处理器芯片质量检测与自动分拣装置及其控制方法,该装置包括机械组件、检测与控制组件、计算机以及多个芯片分类盒;机械组件包括电动滑台、三自由度机械臂以及自动锁紧与解锁芯片座机构;多个芯片分类盒分别设置在电动滑台两侧;三自由度机械臂的顶部可移动,底部设置在电动滑台上方;三自由度机械臂包括控制水平方向转动的第一机械臂和控制向两侧转动的第二机械臂,自动锁紧与解锁芯片座机构安装在第一机械臂的底部;电动滑台、三自由度机械臂、自动锁紧与解锁芯片座机构以及计算机均与检测与控制组件相连。本发明能够对芯片进行自动检测,并根据检测结果进行分类,能够对废弃芯片进行再检测、再利用,提高了芯片的利用率。

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