评价磨粒质量的方法、抛光方法以及玻璃抛光用的磨料

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专利名称	评价磨粒质量的方法、抛光方法以及玻璃抛光用的磨料
申请号	CN200310116366.7	申请日期	2003-11-21
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2004-06-09	公开/公告号	CN1502666
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	C09K3/14 ? IPC结构图谱： C 化学；冶金 C0 化学 C09 染料；涂料；抛光剂；天然树脂；黏合剂；其他类目不包含的组合物；其他类目不包含的材料的应用 C09K 不包含在其他类目中的各种应用材料；不包含在其他类目中的材料的各种应用 C09K3/00 不包含在其他类目中的材料〔2〕 C09K3/14 防滑材料；研磨材料（含高分子物质的磨料或摩擦体或者成型磨料的制造入C08J 5/14）〔4〕	IPC分类号	C;0;9;K;3;/;1;4;;;B;2;4;B;9;/;0;8;;;G;0;1;N;9;/;0;0查看分类表>
申请人	清美化学股份有限公司	申请人地址	日本神奈川县变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	清美化学股份有限公司	当前权利人	清美化学股份有限公司
发明人	小宫広嗣;山口在久;久恒哲史;竹中敦义;米森重明
代理机构	上海专利商标事务所有限公司	代理人	周承泽

摘要

一种评价抛光玻璃用的磨粒质量的方法，所述方法包括：在溶解有二氧化硅的水性介质中加入要测定的磨粒，使得二氧化硅在二氧化硅于水性介质中基本上不聚合的条件下吸附在磨粒上，随后进行固液分离，从母液中分离出磨粒，测定残留在母液中的二氧化硅浓度，用以测定二氧化硅在磨粒上的吸附率(η)。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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