透明或半透明介质上、下表面三维位置检测方法、系统和装置

发明专利有效专利

申请号：
CN202010412395.1
IPC分类号：G01N21/958;G01N21/94;G01N21/88
申请日期：
2020-05-15
申请人：
奕目（上海）科技有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	透明或半透明介质上、下表面三维位置检测方法、系统和装置
申请号	CN202010412395.1	申请日期	2020-05-15
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2021-05-18	公开/公告号	CN112816505A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/958 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/95 特征在于待测物品的材料或形状（G01N 21/89至G01N 21/91，G01N 21/94优先）〔7〕 G01N21/958 检测透明材料〔7〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;9;5;8;;;G;0;1;N;2;1;/;9;4;;;G;0;1;N;2;1;/;8;8查看分类表>
申请人	奕目（上海）科技有限公司	申请人地址	上海市闵行区剑川路951号1幢1206室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	奕目（上海）科技有限公司	当前权利人	奕目（上海）科技有限公司
发明人	李浩天;丁俊飞
代理机构	上海段和段律师事务所	代理人	李佳俊

摘要

一种透明或半透明介质上、下表面三维位置检测方法，设置至少一光源，以适合角度照射被测所述透明或半透明介质，使得所述透明或半透明介质的上、下表面形成纹理图像，且能够被至少一台光场相机拍摄成像；使用所述光场相机拍摄所述透明或半透明介质成像的纹理区域，并进行光场多视角渲染及深度计算，获得光场多视角图像和光场深度图像；根据透明或半透明介质上、下表面纹理的三维位置信息，获得所述的透明或半透明介质上、下表面的三维位置信息。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供