一种基于超声TOFD法的近表面缺陷定量化检测方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201010115420.6
IPC分类号：G01N29/07
申请日期：
2010-03-01
申请人：
哈尔滨工业大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种基于超声TOFD法的近表面缺陷定量化检测方法
申请号	CN201010115420.6	申请日期	2010-03-01
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2010-08-18	公开/公告号	CN101806777A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N29/07 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N29/00 利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像（G01N 3/00至G01N 27/00优先）〔4〕 G01N29/04 固体分析（利用声发射技术入G01N 29/14）〔4，5，8〕 G01N29/07 通过测量声波的传播速度或传播时间〔8〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;9;/;0;7查看分类表>
申请人	哈尔滨工业大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	哈尔滨工业大学	当前权利人	哈尔滨工业大学
发明人	迟大钊;刚铁;姚英学;周安;袁媛
代理机构	哈尔滨市松花江专利商标事务所	代理人	张宏威

摘要

一种基于超声TOFD法的近表面缺陷定量化检测方法，涉及超声波检测领域，解决现有采用B扫描实现缺陷定位的方法中，所述B扫描的过程受焊缝的高度和宽度的影响比较大，测量对象受限制的问题，本发明的具体方法为：测定检测系统的时间延迟；在被检测体上标定三维检测坐标系，然后布置两探头位置，并对焊缝进行A扫描，然后根据获取的A扫描信号确定缺陷波在被检测体中传播的距离以及两个超声波探头的声入射点位置获得一个半椭圆方程；移动其中一个超声波探头至新测点处，重复上述操作获得另一个半椭圆方程；联立两半椭圆方程，获得两个半椭圆的交点坐标，根据所述交点坐标获得缺陷端部的横向及埋藏深度位置。本发明适用于超声波检测领域。

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