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半导体器件及其制造方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201511021446.3
IPC分类号：H01L27/11502
申请日期：
2015-12-31
申请人：
富士通半导体股份有限公司

基础信息

权利要求

说明书

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	半导体器件及其制造方法
申请号	CN201511021446.3	申请日期	2015-12-31
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-07-27	公开/公告号	CN105810686A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01L27/11502 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G 9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中半导体器件的使用见该应用的小类）〔2〕 H01L27/00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件（其零部件入H01L 23/00，H01L 29/00至H01L 51/00；由多个单个固态器件组成的组装件入H01L 25/00）〔2，8〕 H01L27/02 包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的；包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的〔2〕 H01L27/04 其衬底为半导体的〔2〕 H01L27/10 在重复结构中包括有多个独立组件的〔2〕 H01L27/105 包含场效应组件的〔5〕 H01L27/112 只读存储器结构的〔5〕 H01L27/115 电动编程只读存储器；其多步骤制造方法〔5，2006.01，2017.01〕 H01L27/11502 具有铁电体存储器电容器的〔2017.01〕	IPC分类号	H;0;1;L;2;7;/;1;1;5;0;2查看分类表>
申请人	富士通半导体股份有限公司	申请人地址	日本神奈川县横滨市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	富士通半导体股份有限公司	当前权利人	富士通半导体股份有限公司
发明人	置田阳一;伊藤英树;王文生
代理机构	隆天知识产权代理有限公司	代理人	聂慧荃;黄艳

摘要

一种制造半导体器件的方法，其包括：在半导体衬底之上形成绝缘膜；在绝缘膜上形成导电膜；在导电膜上形成介电膜；在介电膜上以一定间隔形成多个上电极；通过溅射法在上电极和介电膜上形成第一保护性绝缘膜；通过原子层沉积法在第一保护性绝缘膜上形成第二保护性绝缘膜，从而用第二保护性绝缘膜填充沿着介电膜的晶界的间隙；在第二保护性绝缘膜形成后，使导电膜形成图案以提供下电极。

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