一种光学元件光谱测量装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201220423896.0
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2012-08-24
申请人：
北京奇峰蓝达光学科技发展有限公司

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著录项信息

专利名称	一种光学元件光谱测量装置
申请号	CN201220423896.0	申请日期	2012-08-24
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	北京奇峰蓝达光学科技发展有限公司	申请人地址	北京市朝阳区万红里甲31号院1号楼310号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京奇峰蓝达光学科技发展有限公司	当前权利人	北京奇峰蓝达光学科技发展有限公司
发明人	刘景峰
代理机构	北京中创阳光知识产权代理有限责任公司	代理人	尹振启;张显光

摘要

本实用新型公开了一种光学元件光谱测量装置，包括底座，所述底座一侧设置有发出光线的光源，沿光源照射方向设置有色散光线的光栅，在光栅后方设置有放置待测基片的角度架，在角度架后方设置有光谱探测器，所述角度架通过夹具固定样片或待测基片。该装置通过测量样片校正测试基线，在此基础上再更换待测基片进行测量，即可达到光路偏折一致的条件，测得基片的透过率后乘以样片的理论值即可得到准确结果，该理论值是样片在待测基片所镀角度膜层的角度下的理论透过率。该装置角度架的夹具角度可调，能够测试多种带角度膜层的光学元件。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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