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基于联邦个性化学习的光刻热区检测方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110545686.2
  • IPC分类号:G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08
  • 申请日期:
    2021-05-19
  • 申请人:
    浙江大学
著录项信息
专利名称基于联邦个性化学习的光刻热区检测方法
申请号CN202110545686.2申请日期2021-05-19
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-08-06公开/公告号CN113222031A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06K9/62IPC分类号G;0;6;K;9;/;6;2;;;G;0;6;N;3;/;0;4;;;G;0;6;N;3;/;0;8查看分类表>
申请人浙江大学申请人地址
浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人浙江大学当前权利人浙江大学
发明人卓成;林学忠;徐金明;孟文超;朱建新;黄炎;朱泽晗
代理机构杭州求是专利事务所有限公司代理人刘静
摘要
本发明公开了一种基于联邦个性化学习的光刻热区检测方法,中心服务器聚合每个节点返回的全局模型参数,用于融合每个节点的共同特征,更新全局模型参数,再把最新的全局模型参数反馈到每个节点;每个节点从中心服务器下载全局模型参数,然后利用本地数据训练局部模型参数,以找到当前全局模型参数下局部模型参数的最优,用于克服不同节点的模型异构和数据异构;局部模型参数微调之后,节点利用本地数据训练全部参数,以找到当前参数的最优,用于寻找不同节点的共同特征。本发明解决了局部数据过少而产生的模型过拟合问题;保护各芯片设计厂商之间的数据,实现隐私保护;提高了异构环境中联邦个性化学习模型的稳定性和整体精度。

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