坐标检测装置

发明专利无效专利

申请号：
CN02802275.0
IPC分类号：G01B11/00;G01M11/00;G02B21/36
申请日期：
2002-06-28
申请人：
奥林巴斯光学工业株式会社

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	坐标检测装置
申请号	CN02802275.0	申请日期	2002-06-28
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2003-12-31	公开/公告号	CN1464969
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;1;M;1;1;/;0;0;;;G;0;2;B;2;1;/;3;6查看分类表>
申请人	奥林巴斯光学工业株式会社	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	奥林巴斯光学工业株式会社	当前权利人	奥林巴斯光学工业株式会社
发明人	加藤洋
代理机构	永新专利商标代理有限公司	代理人	黄剑锋

摘要

本发明提供一种坐标检测装置。其中，在与多个发光元件(71)的排列方向相同的方向上串连连接多个、例如四个坐标显示板(72)，所述坐标显示板是将多个发光元件(71)成一列地等间隔安装构成的，使该发光体(70)移动到玻璃基板(3)的上方，从而可以对例如：液晶显示器或有机EL显示器等平板显示器(FPD)中使用的玻璃基板等半导体玻璃基板进行表面缺陷检查。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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