用于表征电路板测试覆盖率的方法和设备

发明专利无效专利

申请号：
CN03148050.0
IPC分类号：--
申请日期：
2003-06-27
申请人：
安捷伦科技有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	用于表征电路板测试覆盖率的方法和设备
申请号	CN03148050.0	申请日期	2003-06-27
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2004-03-03	公开/公告号	CN1479112
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	安捷伦科技有限公司	申请人地址	美国加利福尼亚州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	安捷伦科技有限公司	当前权利人	安捷伦科技有限公司
发明人	肯尼思·P·帕克;凯瑟琳·J·赫德;埃里克·A·拉莫斯
代理机构	北京东方亿思专利代理有限责任公司	代理人	杜娟

摘要

本发明公开了用于表征电路板测试覆盖率的方法和设备。在一种方法中，列举电路板潜在的缺陷性质，而不考虑所述的潜在的缺陷性质可能如何被测试。对于每一个所列举的潜在的缺陷性质，产生一个性质分数。每个性质分数指示了测试组合是否对潜在的缺陷性质进行了测试。接着，根据加权结构把性质分数组合起来以表征测试组合的电路板测试覆盖率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供