加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

一种基于微纳光腔的超高精度单轴光学加速度计

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201720766971.6
  • IPC分类号:G01P15/093;G01P1/02
  • 申请日期:
    2017-06-28
  • 申请人:
    华中光电技术研究所(中国船舶重工集团公司第七一七研究所)
著录项信息
专利名称一种基于微纳光腔的超高精度单轴光学加速度计
申请号CN201720766971.6申请日期2017-06-28
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01P15/093IPC分类号G;0;1;P;1;5;/;0;9;3;;;G;0;1;P;1;/;0;2查看分类表>
申请人华中光电技术研究所(中国船舶重工集团公司第七一七研究所)申请人地址
湖北省武汉市江夏区阳光大道717号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华中光电技术研究所(中国船舶重工集团公司第七一七研究所)当前权利人华中光电技术研究所(中国船舶重工集团公司第七一七研究所)
发明人耿安兵;姚远;卢乾波;郭劼;王海涛;董亭亭;白剑
代理机构湖北武汉永嘉专利代理有限公司代理人许美红
摘要
本实用新型涉及一种基于微纳光腔的超高精度单轴光学加速度计,包括微纳光腔组件和激光探测组件,微纳光腔组件包括压电薄膜、微机械放大器、微纳光栅和引线,激光探测组件包括激光器、衰减片、衍射光探测器、基础光探测器、环境光探测器、偏振片、四分之一波片和分光镜,激光器发出激光束分为两束激光,一束激光射入基础光探测器,另一束激光入射到微纳光栅上并且其中一部分激光发生反射式衍射、另一部分激光透过衍射光栅被微机械放大器上表面的高反膜反射再次通过衍射光栅发生透射式衍射,两种衍射光束发生干涉形成光强与微机械放大器的敏感质量块的位移相关的光斑并被倾斜的衍射光探测器探测。该加速度计能超高加速度‑位移转换,抑制了串扰,灵敏度高。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供