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一种用于获取表面势的方法及装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201810577635.6
  • IPC分类号:G06F30/27
  • 申请日期:
    2018-06-07
  • 申请人:
    中国科学院微电子研究所
著录项信息
专利名称一种用于获取表面势的方法及装置
申请号CN201810577635.6申请日期2018-06-07
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2018-11-13公开/公告号CN108804807A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F30/27IPC分类号G06F30/27查看分类表>
申请人中国科学院微电子研究所申请人地址
北京市朝阳区北土城西*** 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院微电子研究所当前权利人中国科学院微电子研究所
发明人卢年端;李泠;刘明
代理机构北京华沛德权律师事务所代理人房德权
摘要
本发明提供了一种用于获取表面势的方法及装置,方法包括:获取多个目标器件的参数信息,参数信息包括:尺寸、器件结构、材料参数以及不同温度下的各所述目标器件的载流子迁移率;所述多个目标器件包括:常规材料制备的器件以及表面势已经被确定的新型材料制备的器件;所述常规材料包括体材料,所述第一新型材料包括:薄膜材料;在对应的操作条件下,基于每个所述目标器件的尺寸、所述器件结构、所述材料参数及所述迁移率提取各表面势;基于各所述表面势和参数信息建立表面势数据库;基于所述表面势数据库,根据神经网络构建表面势解析模型;利用所述表面势解析模型确定新型材料制备的器件的表面势。

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