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快速访问寄存器和表项的验证方法、装置和验证设备

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201810562043.7
  • IPC分类号:G06F11/36;G06F13/16;G06F30/3308;G06F115/06
  • 申请日期:
    2018-06-01
  • 申请人:
    天津芯海创科技有限公司;天津市滨海新区信息技术创新中心
著录项信息
专利名称快速访问寄存器和表项的验证方法、装置和验证设备
申请号CN201810562043.7申请日期2018-06-01
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2018-11-16公开/公告号CN108829592A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F11/36IPC分类号G;0;6;F;1;1;/;3;6;;;G;0;6;F;1;3;/;1;6;;;G;0;6;F;3;0;/;3;3;0;8;;;G;0;6;F;1;1;5;/;0;6查看分类表>
申请人天津芯海创科技有限公司;天津市滨海新区信息技术创新中心申请人地址
天津市滨海新区滨海-中关村科技园荣晟广场4号楼702-7 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人天津芯海创科技有限公司,天津市滨海新区信息技术创新中心当前权利人天津芯海创科技有限公司,天津市滨海新区信息技术创新中心
发明人田晓旭;刘冬培;沈剑良;徐庆阳;刘勤让;朱珂;吕平;宋克;张丽;丁青子;黑建平;杨晓龙;杨堃;汪欣;丁旭;汤先拓
代理机构北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)代理人王文红
摘要
本发明提供了一种快速访问寄存器和表项的验证方法、装置和验证设备,涉及集成电路验证技术领域,预先将待验证的集成电路划分成第一模块和第二模块,第一模块为设计中功能稳定的部分,第二模块为设计中功能不稳定的部分;该方法包括:为第一模块和第二模块分别构建第一测试系统和第二测试系统;第一测试系统通过集成电路的外部接口与第一模块连接,第二测试系统通过集成电路的内部接口与第二模块连接;对第一测试系统和第二测试系统分别构造测试用例;在第一测试系统和第二测试系统上分别运行对应的测试用例,并得到仿真结果。本发明实施例可以加快访问寄存器和表项的速度,提高仿真速度节省时间。

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