落球测试治具

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201420151341.4
IPC分类号：G01N3/04;G01N3/303
申请日期：
2014-03-31
申请人：
达丰（重庆）电脑有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	落球测试治具
申请号	CN201420151341.4	申请日期	2014-03-31
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N3/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N3/00 用机械应力测试固体材料的强度特性 G01N3/02 零部件 G01N3/04 夹具	IPC分类号	G;0;1;N;3;/;0;4;;;G;0;1;N;3;/;3;0;3查看分类表>
申请人	达丰（重庆）电脑有限公司	申请人地址	重庆市沙坪坝区综保大道18号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	达丰（重庆）电脑有限公司	当前权利人	达丰（重庆）电脑有限公司
发明人	钟正;王明
代理机构	上海光华专利事务所	代理人	敖欢

摘要

本实用新型提供一种落球测试治具，包括：基座，所述基座上两个平行设置的导轨、及与所述导轨平行设置的定位槽；固定部，固定设置于所述导轨末端，包括竖直设置的支架、水平固设于所述支架顶端的上支座、与所述上支座活动连接的夹持座、固设于所述基座上表面的与所述上支座对应设置的下支座；定位部，活动设置于所述导轨之上，包括竖直放置的移动支架；本实用新型通过在基座上设置固定部及定位部，所述定位部可以在所述基座上移动，以便夹持不同尺寸的电子产品，并能通过夹持座对电子产品左右进行夹持，达到测试需求。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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