金属薄板印刷涂层的湿膜厚度差分测量及均匀性评估方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201510073877.8
IPC分类号：G01B11/06;G01N21/86
申请日期：
2015-02-11
申请人：
南通大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	金属薄板印刷涂层的湿膜厚度差分测量及均匀性评估方法
申请号	CN201510073877.8	申请日期	2015-02-11
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2015-05-13	公开/公告号	CN104613883A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先） G01B11/06 用于计量厚度	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;6;;;G;0;1;N;2;1;/;8;6查看分类表>
申请人	南通大学	申请人地址	上海市闵行区三鲁公路3585号1幢二层C区变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海三景制版有限公司	当前权利人	上海三景制版有限公司
发明人	邱自学;陆观;万莉平;袁江;邵建新;张军
代理机构	南京瑞弘专利商标事务所（普通合伙）	代理人	徐激波

摘要

本发明公开了一种金属薄板印刷涂层湿膜厚度差分测量及均匀性评估方法，包括如下步骤：(1)将涂布前的金属薄板置于可X向运动的测厚平台上，装有激光双测头的扫描测厚机构可沿Y向移动，实现金属薄板XOY平面内若干点云数据的采集；(2)将涂布后的该金属薄板置于测厚平台的相同位置，沿原路径扫描测量；(3)对同一金属薄板涂布前后的数据，按差分测量原理进行数据处理，以得到被测点处的涂层厚度；(4)对所测厚度数据按最小二乘原理和三次样条插值算法拟合，得到金属薄板表面涂层厚度的三维图形，以此评估整个金属薄板表面涂层厚度的均匀性。本发明有效评估了金属薄板印刷涂层厚度的均匀性情况，为金属薄板涂布机构调整提供了依据。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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