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一种宽阻带频率选择副反射面

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201910499377.9
  • IPC分类号:H01Q15/16;H01Q15/00
  • 申请日期:
    2019-06-11
  • 申请人:
    中国电子科技集团公司第五十四研究所
著录项信息
专利名称一种宽阻带频率选择副反射面
申请号CN201910499377.9申请日期2019-06-11
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2019-11-01公开/公告号CN110401041A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01Q15/16IPC分类号H;0;1;Q;1;5;/;1;6;;;H;0;1;Q;1;5;/;0;0查看分类表>
申请人中国电子科技集团公司第五十四研究所申请人地址
河北省石家庄市中山西路589号天伺部 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国电子科技集团公司第五十四研究所当前权利人中国电子科技集团公司第五十四研究所
发明人贾丹;何应然;董长胜;韩国栋;高志明;武彦飞;刘磊
代理机构河北东尚律师事务所代理人暂无
摘要
本发明公开了一种宽阻带频率选择副反射面,包括副反射面主体,副反射面主体的外表面覆盖有保护层,位于保护层的内侧为包覆副反射面主体的金属层或者位于保护层的内侧为包覆副反射面主体凹面的金属层或者位于保护层的内侧为包覆副反射面主体凸面的金属层,在金属层上刻蚀留出有多组用于提高阻带降敏的频选结构组,频选结构组均布在金属层表面,每个频选结构组由三个频选结构单元组成,频选结构单元为成环形延伸且延伸过程中成周期性迂回弯曲状的环形金属线,频选结构组的三个频选结构单元的中心连线为等边三角形。本发明宽阻带频率选择副反射面具有宽阻带的优点,该发明的阻带更宽,且具有对入射角度不敏感的优势。

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