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粒度分布测定装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201110035781.4
  • IPC分类号:G01N15/02
  • 申请日期:
    2011-02-10
  • 申请人:
    株式会社堀场制作所
著录项信息
专利名称粒度分布测定装置
申请号CN201110035781.4申请日期2011-02-10
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2011-09-21公开/公告号CN102192868A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N15/02IPC分类号G01N15/02查看分类表>
申请人株式会社堀场制作所申请人地址
日本*** 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人株式会社堀场制作所当前权利人株式会社堀场制作所
发明人菅澤央昌
代理机构北京信慧永光知识产权代理有限责任公司代理人李雪春;武玉琴
摘要
本发明提供一种粒度分布测定装置,可以使测定条件的评价变得容易,该测定条件的评价用于对各个试样设定最佳的测定条件。所述粒度分布测定装置包括:装置主体,进行试样的粒度分布测定;以及界面设备,接收来自操作员的输入并对装置主体进行驱动控制,并且接收来自装置主体的测定结果并进行显示,界面设备用图表示用于进行粒度分布测定所应该设定的操作参数的值与对应于操作参数的各值的、利用装置主体的测定结果得到的评价参数的值的关系。

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