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一种采用光纤端面腐蚀的温度和应变测试方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201710192711.7
  • IPC分类号:G01D5/353;G01B11/16;G01K11/32
  • 申请日期:
    2017-03-28
  • 申请人:
    北京信息科技大学
著录项信息
专利名称一种采用光纤端面腐蚀的温度和应变测试方法
申请号CN201710192711.7申请日期2017-03-28
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2017-07-14公开/公告号CN106949916A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01D5/353IPC分类号G;0;1;D;5;/;3;5;3;;;G;0;1;B;1;1;/;1;6;;;G;0;1;K;1;1;/;3;2查看分类表>
申请人北京信息科技大学申请人地址
北京市海淀区清河小营东路12号北京信息科技大学光电学院 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京信息科技大学当前权利人北京信息科技大学
发明人祝连庆;何巍;董明利;李红;娄小平;刘锋;闫光
代理机构北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙)代理人顾珊;庞立岩
摘要
一种采用光纤端面腐蚀的温度和应变测试方法,包括:a)对光纤端面进行腐蚀处理;b)将腐蚀处理的光纤端面与切平面的光纤相对熔接;c)熔接至孔槽发生膨胀,在纤芯位置产生气泡;d)通过光谱仪对经过气泡传输光发生变化的光程进行观测,产生梳状谱曲线;e)应用所述梳状谱曲线进行传感测试;f)当干涉仪受到外界影响导致气泡结构发生改变,光程差发生变化,导致干涉梳状谱改变,干涉条纹产生移动;g)将气泡传感器和光纤光栅熔接在一起,可同时对温度以及应变进行测试。

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