集成电路的边界扫描测试系统

发明专利无效专利

申请号：
CN98810850.X
IPC分类号：--
申请日期：
1998-11-03
申请人：
爱特梅尔股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	集成电路的边界扫描测试系统
申请号	CN98810850.X	申请日期	1998-11-03
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2000-12-27	公开/公告号	CN1278332
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	爱特梅尔股份有限公司	申请人地址	美国加利福尼亚州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	爱特梅尔公司	当前权利人	爱特梅尔公司
发明人	S·拉马默西;潭京仑;G·S·贡维尔;小J·费伊
代理机构	上海专利商标事务所	代理人	洪玲

摘要

边界扫描集成电路在两个专用引脚(测试数据输入(TDI)(16)和测试数据输出(TDO)(18)引脚)之间设置了多个新的寄存器(56，61，62，65，67)。这些寄存器包括地址寄存器(56)和可使用(IR)(23)中的地址指令由地址寄存器寻址的多个测试数据寄存器(61，62，65，66，67)。可以置于(IR)中的ADDLOAD指令把用于可寻址寄存器的指令导引到正确的寄存器，接着使(TDI)和(TDO)引脚之间的地址相关寄存器有效。可把来自一组地址相关指令的任何指令导引到操纵地址相关指令的任何寄存器，从而允许在大量可寻址的数据寄存器中使用少量的指令。诸如边界扫描寄存器(54)等不可寻址的寄存器使用地址无关指令。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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