X射线分析装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201310471920.7
IPC分类号：G01N23/20
申请日期：
2013-10-11
申请人：
株式会社理学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	X射线分析装置
申请号	CN201310471920.7	申请日期	2013-10-11
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-04-16	公开/公告号	CN103728325A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/14 （转入G01N 23/083-G01N 23/087， G01N 23/12） G01N23/20 利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射〔1，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;0查看分类表>
申请人	株式会社理学	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社理学	当前权利人	株式会社理学
发明人	大原孝夫;若佐谷贤治;小泽哲也;西邦夫
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	毛立群;王忠忠

摘要

本发明提供一种当对样品照射了X射线时通过X射线检测器检测从该样品发出的X射线的X射线分析装置。该X射线分析装置具备可更换的部件。该X射线分析装置具有：标签，附加于可更换的部件中并且附加了表示可更换的部件的种类的符号；摄影机，将可更换的部件和标签进行摄影；以及CPU和图像认识软件，基于附加于标签的符号通过计算特定可更换的部件的种类。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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