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具有钝化层的半导体器件及用于制作其的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201510099304.2
  • IPC分类号:H01L29/02;H01L29/06;H01L21/329;H01L21/335;H01L21/336
  • 申请日期:
    2015-03-06
  • 申请人:
    英飞凌科技股份有限公司
著录项信息
专利名称具有钝化层的半导体器件及用于制作其的方法
申请号CN201510099304.2申请日期2015-03-06
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2015-09-09公开/公告号CN104900685A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L29/02IPC分类号H;0;1;L;2;9;/;0;2;;;H;0;1;L;2;9;/;0;6;;;H;0;1;L;2;1;/;3;2;9;;;H;0;1;L;2;1;/;3;3;5;;;H;0;1;L;2;1;/;3;3;6查看分类表>
申请人英飞凌科技股份有限公司申请人地址
德国瑙伊比贝尔格市坎芘昂1-12号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人英飞凌科技股份有限公司当前权利人英飞凌科技股份有限公司
发明人C.黑希特;A.卡巴科夫;J.P.康拉特;R.鲁普
代理机构中国专利代理(香港)有限公司代理人蒋骏;胡莉莉
摘要
本发明涉及具有钝化层的半导体器件及用于制作其的方法。一种半导体器件包括具有第一表面的半导体本体、在第一表面上的接触电极、和在第一表面上与接触电极相邻并且与接触电极部分重叠的钝化层。该钝化层包括具有第一层和第二层的层堆叠,该第一层包括在第一表面上的氧化物,该第二层包括在第一层上的氮化物。

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