一种用于多元红外线轴温探测器光斑尺寸的测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201110157341.6
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2011-06-13
申请人：
北京康拓红外技术股份有限公司

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著录项信息

专利名称	一种用于多元红外线轴温探测器光斑尺寸的测量方法
申请号	CN201110157341.6	申请日期	2011-06-13
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2012-02-15	公开/公告号	CN102353521A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	北京康拓红外技术股份有限公司	申请人地址	北京市海淀区知春路61号9层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京康拓红外技术股份有限公司	当前权利人	北京康拓红外技术股份有限公司
发明人	王勇;董烁;毕方勇;马丁;熊伟
代理机构	北京永创新实专利事务所	代理人	官汉增

摘要

本发明提出的一种用于多元红外线轴温探测器光斑尺寸的测量方法，具体包括：步骤一：将探测器和黑体设置在T型导轨上；步骤二：调整探测器与黑体中心的高度；步骤三：开启黑体和探测器，接收响应信号；步骤四：连续移动黑体，记录相应信号；步骤五：当无响应信号时，停止移动黑体；步骤六：将响应信号与对应的黑体位置进行绘图；步骤七：得到光斑尺寸。本发明提出的一种用于多元红外线轴温探测器光斑尺寸的测量方法，能准确的测量出光斑的尺寸，精度至少能达到0.5cm的量级，明显提高了测量精度，且本发明的测量方法简单快捷，信息量丰富，能够得出探测器光斑在不同方向上的尺寸。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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