X射线检查装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200910258041.X
IPC分类号：G01B15/04;G01N23/04;G01N23/18;B07C5/34
申请日期：
2009-12-16
申请人：
株式会社石田

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	X射线检查装置
申请号	CN200910258041.X	申请日期	2009-12-16
法律状态	撤回	申报国家	暂无
公开/公告日	2010-06-23	公开/公告号	CN101750033A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B15/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B15/00 以采用波或粒子辐射为特征的计量设备（G01B 9/00，G01B 11/00优先）〔4〕 G01B15/04 用于计量轮廓或曲率	IPC分类号	G;0;1;B;1;5;/;0;4;;;G;0;1;N;2;3;/;0;4;;;G;0;1;N;2;3;/;1;8;;;B;0;7;C;5;/;3;4查看分类表>
申请人	株式会社石田	申请人地址	日本京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社石田	当前权利人	株式会社石田
发明人	津野正雄;宫崎清司;山本慎也;山元康司;山本康博;松村彻二;片山兴二
代理机构	北京尚诚知识产权代理有限公司	代理人	龙淳

摘要

一种X射线检查装置，其具备X射线照射部、X射线检测部、质量推断部和质量级别判定部。X射线照射部对检查对象物照射X射线。X射线检测部检测从X射线照射部照射的、透过检查对象物的X射线。质量推断部根据X射线检测部检测出的X射线量推断检查对象物的质量。质量级别判定部判断由质量推断部推断出的检查对象物的质量属于预先设定范围内的质量级别中的哪个级别。

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